新益十年 感恩有你

新益十年感恩有你

十年是一段历程，十年是一个台阶，十年是一段走过的路，十年是一座翻过的山；十年来我们在天线测量这一领域深耕细 […]

恩智浦(NXP)签约新益技术

2020年9月恩智浦半导体公司(NXP Semiconductors)采购新益天线测量系统，新益技术将为其建造 […]

通/断校准法校准相控阵天线

相控阵天线相控阵天线的性能很大程度上受到单元故障和误差的影响。有源部件的增加会提高故障率，加上传输线、移相器 […]

旋转矢量法校准相控阵天线（REV）

旋转矢量法就是把要测的天线单元输出看作一个矢量，其余的天线单元输出看作另一个矢量，然后通过改变待测单元的相位角度，即旋转矢量的方向来改变和矢量得方向，通过两个矢量之和的最大值和最小值，和变化的相位角求解出待测单元和其他单元幅度比和相位差值，然后通过逐一检测每一个天线阵元的数据最后得出相控阵天线各个单元的初始幅度相位值。

相控阵天线测试校准方法简介

相控阵天线通过改变各天线通道馈电的相位和幅度,达到波束扫描的目的，因此可以实现探测，搜索、识别、跟踪和制导等目的。然而天线设计完成后由于各种误差，许多重要指标会受到各天线通道相位和幅度的不一致性影响，需要将每个单元的初始幅相校准到同一水平才能实现更佳的性能。因此相控阵校准技术成为相控阵测试的热点问题，随着对相控阵天线性能要求的不断提高，相控阵校准技术也在不断发展。