SCR-5000线阵多探头柱面测试系统

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新益SCR-5000柱面测试系统,系行业内首创线阵多探头柱面测试系统,创新的将球面多探头技术融合到柱面,在大幅度节约占地空间和成本的情况下,保证测试精度。该系统采用多探头校准技术,电子固态开关快速采集数据,测量天线3D方向图,同时根据用户需求扩展测试驻波、隔离度等S参数信息。根据柱面系统的特点,该系统特别适用于垂直面波束较窄的基站天线的测量。

总的来说,用一个测“互调”或“驻波”的暗室代价,就可以实现测“3D方向图”的回报,特别适合研发定型诊断测试与生产批量抽检。。

系统优势

  • 测试速度快:多探头设计,媲美球面多探头测试效率,水平安装,方便快捷。
  • 系统高性价比:与球面近场系统相比占用空间小,成本低,最大程度上保证了测试精度。
  • 过采样技术:多探头结构可移动,实现Z轴的过采样,可以测量更大的天线。

c5

基本参数

探头个数 50个
柱面长度 5000mm
被测设备(DUT)最大长度 4000mm
被测设备(DUT)最大质量 100kg
测试频段 400-6000MHz
可选的电波暗室尺寸 5.2m*3.5m*3m(L*W*H)

 

测试效率

9-13min频段(MHz) 频段(MHz)
400-960 3-4min
960-1700  5-8min
1700-2700 9-13min
Above 2700 >15min

软件界面

scr
可测试参数

近场方向图(2D/3D) 远场方向图(2D/3D)
旁瓣电平 增益
交叉极化鉴别率 波束宽度
前后比 不圆度
下倾角精度 S参数(驻波/隔离)

系统精度

测试项目 稳定性 准确性
半功率波瓣宽度 <±0.2dB <±5%
交叉极化鉴别率 <±0.2°  ±3dB
副瓣 <±0.2dB <±0.5dB